型號：GSZ-RTS-8

四探針測試儀測試儀

描述：四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。

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更新時間
2024-04-12
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四探針測試儀測試儀型號：GSZ-RTS-8

四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準而的，用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的用儀器。
    儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等分組成，測量數(shù)據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。
    儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作等點。
    本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能測試。

產品名稱：錯覺試驗儀
產品型號：HAD-BD-II-113

錯覺試驗儀型號；HAD-BD-II-113

HAD-BD－Ⅱ－113型錯覺實驗儀主要是證實繆勒－萊伊爾視錯覺現(xiàn)象的存在和研究錯覺量大小。

主要標：

1. 線段總長度：200mm，箭頭線與箭尾線長度可調，可調范圍±20mm

2. 錯覺量長度讀數(shù)誤差：＜0.1mm，位于儀器的背面

3. 箭羽長度：25mm

4. 箭羽線夾角：30°、45°、60°

5. 選用種夾角箭羽線時的檔板：2塊

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