少子壽命測試儀是款硅片少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。
 

　　下面我給大家講講它的點：
 

　　1.測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。
 

　　2.主要應用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的廠、出廠檢查，過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
 

　　3.適用于低阻硅料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達ρ>0.1Ω?cm(可擴展至0.01Ω?cm)，*了微波光電導無法檢測低阻單晶硅的問題。
 

　　4.程監(jiān)控動態(tài)測試過程，避免了微波光電導(u-PCD)無法觀測晶體硅陷阱效應，表面復合效應缺陷的問題。
 

　　5.貫穿深度大，達500微米，相比微波光電導的30微米的貫穿深度，真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量，避免了表面復合效應的干擾。
 

　　6.業(yè)定制樣品架滿足了原生多晶硅料企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求，包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
 

　　7.性價比，價格遠低于外外少子壽命測試儀產(chǎn)品，大程度地降低了企業(yè)的測試成本。
 

　　北京恒奧德儀儀器儀表有限公司為各大企業(yè)提供了許多產(chǎn)品和優(yōu)質(zhì)服務(wù)。公司堅持以用戶至上，質(zhì)量率，信譽率，信譽恒和服務(wù)yi為宗旨。產(chǎn)品出廠年內(nèi)免費維修，終身保護。嚴格的要求，穩(wěn)定的產(chǎn)量是我廠發(fā)展生存的希望，我們希望廣大科研程人員對誠產(chǎn)品提出更合理、更善的建議，也希望我們共同研制開發(fā)，共未來